Polykrystallinsk halvleder silisiumskive
Test- eller monitorwafere er den nest beste typen wafere. Til tross for dette ligner de på førsteklasses silisiumskiver, bortsett fra at de er rimeligere. Test- eller monitorwafere er mindre presise sammenlignet med førsteklasses wafere, men totalt sett har testkvalitetswafere bare noen få funksjoner som ikke er klagende. Testkvalitets silisiumskiver er flotte for utstyrstesting, kontrollstyring av halvlederfabrikasjon, testing og mer.
Beskrivelse
Beskrivelse
Test- eller monitorwafere er den nest beste typen wafere. Til tross for dette ligner de på førsteklasses silisiumskiver, bortsett fra at de er rimeligere. Test- eller monitorwafere er mindre presise sammenlignet med førsteklasses wafere, men totalt sett har testkvalitetswafere bare noen få funksjoner som ikke er klagende. Testkvalitets silisiumskiver er flotte for utstyrstesting, kontrollstyring av halvlederfabrikasjon, testing og mer.
Spesifikasjon
|
TYPE |
DOPANT |
ORIENTERING |
RESISTIVITET (ohm-cm) |
TYKKELSE (um) |
BAKSIDEN |
TTV (um) |
LEILIGHETER |
Partikkel |
Kontrollnr. |
|
P |
BOR |
<100> |
1-30 |
675±25 |
Etset |
Mindre enn eller lik 10 |
1 Jeida |
<=10@>=0.3 |
PG20 |

Populære tags: polykrystallinsk halvleder silisium wafer
Sende bookingforespørsel
Du kommer kanskje også til å like


