Polykrystallinsk halvleder silisiumskive

Polykrystallinsk halvleder silisiumskive

Test- eller monitorwafere er den nest beste typen wafere. Til tross for dette ligner de på førsteklasses silisiumskiver, bortsett fra at de er rimeligere. Test- eller monitorwafere er mindre presise sammenlignet med førsteklasses wafere, men totalt sett har testkvalitetswafere bare noen få funksjoner som ikke er klagende. Testkvalitets silisiumskiver er flotte for utstyrstesting, kontrollstyring av halvlederfabrikasjon, testing og mer.

Beskrivelse

 

Beskrivelse

Test- eller monitorwafere er den nest beste typen wafere. Til tross for dette ligner de på førsteklasses silisiumskiver, bortsett fra at de er rimeligere. Test- eller monitorwafere er mindre presise sammenlignet med førsteklasses wafere, men totalt sett har testkvalitetswafere bare noen få funksjoner som ikke er klagende. Testkvalitets silisiumskiver er flotte for utstyrstesting, kontrollstyring av halvlederfabrikasjon, testing og mer.

Spesifikasjon

TYPE

DOPANT

ORIENTERING

RESISTIVITET (ohm-cm)

TYKKELSE (um)

BAKSIDEN

TTV (um)

LEILIGHETER

Partikkel

Kontrollnr.

P

BOR

<100>

1-30

675±25

Etset

Mindre enn eller lik 10

1 Jeida

<=10@>=0.3

PG20

product-1-1

Populære tags: polykrystallinsk halvleder silisium wafer

Du kommer kanskje også til å like

Handleposer